非破壞性檢測儀器一式線上預約系統
負責教師
張元鳳
儀器操作員
潘怡伶
eileen0820@hotmail.com
02-77493081
中文名稱
非破壞性檢測儀器一式
英文名稱
Bruker Tracer III SD、BRUKER FT-IR ALPHA、ProTT-EZRaman
英文簡稱
XRF、FTIR、Raman
儀器廠牌
Bruker ( XRF、FTIR )、 TSI ( Raman )
購置年限
2016 年
重要規格
1. XRF 手持式 X 射線螢光光譜分析儀(Bruker Tracer III SD)
2. 傅立葉轉換紅外光譜儀(BRUKER FT-IR ALPHA)
3. 非破壞檢測儀器-精密穩頻拉曼雷射分析儀(ProTT-EZRaman-A6-785nm、ProTT-EZRaman-G5-532nm)
2. 傅立葉轉換紅外光譜儀(BRUKER FT-IR ALPHA)
3. 非破壞檢測儀器-精密穩頻拉曼雷射分析儀(ProTT-EZRaman-A6-785nm、ProTT-EZRaman-G5-532nm)
服務項目
顏料、文物材質元素分析(XRF)、紅外光源檢測、拉曼光源檢測
收費標準
| 計費項目 | 計費單位 | 計費數量 | 計費單價 |
|---|---|---|---|
| X 射線螢光檢測 | 件 | 1 |
校內人員: 2000/件 校外人員(學術): 2000/件 校外人員(產業): 2000/件 |
| 拉曼光源檢測 | 件 | 1 |
校內人員: 2000/件 校外人員(學術): 2000/件 校外人員(產業): 2000/件 |
| 紅外光源檢測 | 件 | 1 |
校內人員: 2000/件 校外人員(學術): 2000/件 校外人員(產業): 2000/件 |
放置地點
藝術學院 文保中心
申請需知
儀器操作由本中心受過教育訓練合格之專業修復師執行，囿於中心事務繁忙，無法排定固定時段開放使用，故如有需借
用儀器，請於一週前以電話預約方式排定檢測時間
用儀器，請於一週前以電話預約方式排定檢測時間