儀器操作員
邱唯剛
curry0626@gmail.com
0975179227
英文名稱
New D8 Discover X-Ray Diffraction System
儀器廠牌
Br uker AXS Gm bH, Germany (德 國 )
重要規格
1. 測角儀:系統規格為直立式且為θ -θ
2. 高解析 X 光 繞 射 儀 專 用 樣 品 載 台 : 具 X, Y, Z, Chi 及 Phi 五 軸 自 由 度 尤 拉 環 。
3. 高解析 X 光 繞 射 儀 系 統 操 作 軟 體 。
4. 高壓電源供應器:(1)電壓調整:可 1kV 昇降,操作範圍 20-50 kV
(2)電流控制:可 1mA 昇降,操作範圍 5~60 mA
服務項目
數據收集,利用 X 光測定已知或未知物的結構,適用於粉末、塊材,以及薄膜低掠角分析。
收費標準
計費項目 | 計費單位 | 計費數量 | 計費單價 |
數據分析及繞射圖譜 |
件 |
1 |
校內人員: 600/件
校外人員(學術): 1000/件
校外人員(產業): 4000/件
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數據分析及繞射圖譜 |
時 |
1 |
校內人員: 600/時
校外人員(學術): 1200/時
校外人員(產業): 2500/時
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申請需知
1. 校外單位由本儀器操作員協助分析,校內單位自行操作須經過訓練及輻射防護研習。
2. 試片最大面積可以到直徑 10.0cm,但不得低於 1.0cm×1.0cm,特殊尺寸請來信討論。
3. 必須對試片結構有一定的瞭解,包括基材、薄膜之大約厚度、成分、密度等。
4. 不接受具揮發性與毒性之試樣。