國立臺灣師範大學 貴重儀器中心

波長散射X射線螢光光譜儀線上預約系統

波長散射X射線螢光光譜儀
負責教師
謝奈特
儀器操作員

謝伯杰

greglab201r@gmail.com

02-77496384

中文名稱
波長散射X射線螢光光譜儀
英文名稱
Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer
英文簡稱
WD-XRF
儀器廠牌
PANalytical
購置年限
2012 年
重要規格
1. X-ray tube:Super Sharp End window X-ray tube with Rhodium(Rh) target, minimum. Rating 60 kV, 160 mA, 4.0 kW with ceramic insulation & tapered nose.
2. Crystals:LiF220, PE-curve, GE-curve, PX1, and PX10.
3. Goniometer:2 θ range: 0-147 degrees; Angular reproducibility: 0.0001; Angular accuracy: 0.0025 degrees for both theta & two theta.
服務項目
岩石地球化學主要元素(SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、MnO、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5)含量
收費標準
計費項目計費單位計費數量計費單價
樣品分析 1 校外人員(學術): 1500/個
校外人員(產業): 1500/個

放置地點
理學院大樓B201R室
申請需知
1. 本實驗室內所有儀器、其周邊設備及人員管理,由謝奈特(J. G. Shellnutt)教授負責。
2. 實驗資訊
2.1. 本實驗室主要提供地質科學研究,機器乃針對岩石樣品主要元素及部分微量元素(SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、MnO、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5)進行設定;如非屬岩石/礦物/土壤樣品或需分析非上述元素成分,請先連絡詢問是否適合進行分析。
2.2. 本實驗室採用燒熔法製成分析試片,實驗過程會將樣品使用高溫(~1300℃)燒熔後冷卻成玻璃樣品片,有機物成分可能無法保存,請自行評估是否符合分析條件。
2.3. 實驗儀器對於硫較敏感,若樣品含硫或硫化物,請勿送樣分析。
2.4. 每件實驗樣品請提供本實驗室大約4公克研磨粉末,粉末需經篩網過篩(粉末粒徑75μm = 0.075 mm = 標準篩網 #200 mesh)。
2.5. 本實驗室提供Excel表格為分析報告表,如需特定格式請由委託人提供。
2.6. 每件實驗樣品收費新台幣1,500元,包含實驗耗材費、工本費及分析費。
3. 欲申請WD-XRF實驗分析之研究人員,請下載並填寫本檔案第二頁預約表單,若申請人為學生或研究助理,預約單上需有指導教授簽名同意。請將預約單掃描並E-mail 至管理人信箱,並致電提醒申請預約使用,管理人會根據預約情況安排使用時間。
4. 申請人請將分析樣品郵寄至「11677台北市文山區汀州路四段88號師大分部理學院地球科學系F406室」。樣品內容請參考實驗資訊2.3。
5. 實驗排程原則上以申請順序為排序準則,報告交期大約一個月,如有急件或特殊需求,請與實驗室負責人連絡說明。
6. WD-XRF為具有輻射產生之儀器,所有分析皆由操作員代為操作;如有親自操作/學生學習需求,請於申請時提出討論。